美國路陽 晶圓缺陷黃綠光表面檢查燈LUYOR-3325G

wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈LUYOR-3325G系列是一款黃綠光表面檢查燈，檢測燈的原理利用適合的LED燈源，通過led發(fā)光，經(jīng)過光學透鏡聚焦的光源，照在工件表面折射出光路，使得操作員肉眼可識別出工件表面的灰塵、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵點，取代傳統(tǒng)的照明設備和光學系統(tǒng)機臺，直接通過照明光線和肉眼，觀測出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵，極大的節(jié)省了一般工廠的采購成本。 LUYOR-3325G檢查燈采用人眼最敏感580NM之間波長光，來做zui簡單與明確的判別，可檢查到1um以下的刮痕或微粒子，幾乎可檢測出所有塵埃，大大降低產(chǎn)品不良率。使用壽命為2萬小時以上。光源強度可達30萬LX，最小可以檢測1μ的表面臟污，比傳統(tǒng)的檢查燈，效用增強10倍.LUYOR-3325G可根據(jù)使用場景，使用便攜手持式或桌面式（安裝再臺式支架上）。

LUYOR-3325G為交流電源供電，可以手持式操作，也可以臺式操作。

LUYOR-3325GD為鋰電池供電，可以手持式操作，也可以臺式操作。

晶圓檢測：用于晶圓測試的黃綠光LED檢測燈,LUYOR-3325G專為晶圓質(zhì)量保證和測試而設計的光學晶圓檢測設備。

使用美國路陽 晶圓缺陷黃綠光表面檢查燈進行晶圓檢測：

• 使用無紫外線輻射的黃綠光燈進行晶圓檢測

• 更換用于晶圓檢測的紫外燈

• 在不使用汞蒸氣燈的情況下測試晶圓

• 設計為濾波綠光燈或濾光黃光燈，用于晶圓檢測

• 使用無紫外線和無汞的SECU-CHEK晶圓測試燈進行晶圓表面檢測

為什么使用LUYOR-3325G半導體檢測燈進行晶圓表面檢測？

• 晶圓生產(chǎn)所需的高工藝可靠性

• 需要經(jīng)濟高效且無gu障的測試操作

• 晶圓測試對于晶圓制備和芯片生產(chǎn)的進一步成本密集型步驟至關重要

• 根據(jù)行業(yè)標準要求的專業(yè)解決方案

晶圓生產(chǎn)中存在哪些誤差，LUYOR-3325G半導體檢測燈的識別能力如何？

• 使用過濾后的黃光燈可以很好地檢測到晶圓的缺陷

• 通過晶圓測試檢測夾雜物

• 通過目視晶圓測試檢測污染物

• 用黃綠光觀察生長障礙

• 在光學晶圓測試期間識別面紗

• 使用LUYOR晶圓檢測燈分析條紋

• 與用于晶圓測試的紫外燈和汞燈相比，可以更好地檢測微觀結構

• 通過晶圓檢測檢測生長孔

• 檢查黃綠色燈的高對比度邊緣變平

• 在光學晶圓檢測中可以發(fā)現(xiàn)邊緣干擾

• 使用晶圓上的質(zhì)量檢測燈檢測結構變化

• 使用紫外黃光和綠光燈檢測晶圓生產(chǎn)中的夾雜物

• 用過濾后的黃光燈識別不均勻